功耗限制下SOC互联总线测试完整性故障的结构的优化

• 作者: 张玲 马学军
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 完整性故障 测试功耗 测试访问机制 测试结构优化
• 年，卷（期）: 2010,（8）
• 页码范围: 112-113,116
• 分类号: TP368.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2095-6835.2010.08.046

摘要

本文提出了一种SOC互联总线测试完整性故障的结构优化方法,本方法是在功耗限制下通过分配TAM使测试时间最小,从而优化了系统测试结构.本文先对测试测试集进行二维压缩分割SI测试集成几个SI组初始化测试结构,为每个核分配一位TAM,通过为每个的TAM进行计算后找出关键TAM,再通过在功耗限制下,反复分配空闲TAM给关键TAM和共享TAM的方法进行测试时间的减少.对ITC 02的试验结果表明,本方法能在功耗限制下大大减少了SOC测试时间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马学军	黄石理工学院计算机学院	19	215	8.0	14.0
2	张玲	黄石理工学院计算机学院	4	15	2.0	3.0