智能卡操作系统的测试技术

• 作者: 李代平 谢晶晶 郭琨
• 来源期刊: 计算机技术与发展
• 学科: 工学
• 关键词: 智能卡操作系统 测试用例 EVDO卡
• 年，卷（期）: 2010,（8）
• 页码范围: 21-24,28
• 分类号: TP31
• 字数: 4464字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-629X.2010.08.006

摘要

智能卡操作系统是智能卡能够支持复杂且安全的应用的基础,目前智能卡操作系统的测试并没有形成成熟的模式.为了在智能卡操作系统的开发中能够对操作系统进行全面并充分的测试,根据智能卡操作系统的体系结构特点、状态转移过程和通信方式,结合软件测试中的理论方法及测试技术,从基本功能、防拔插及耐久性三方面对智能卡操作系统的测试进行研究,给出了智能卡操作系统的测试方案.在EVDO卡的测试中表明,该测试方案是可行的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李代平	广东工业大学计算机学院	58	412	10.0	16.0
2	郭琨	广东工业大学计算机学院	4	37	2.0	4.0
3	谢晶晶	广东工业大学计算机学院	3	13	3.0	3.0