微处理器体系结构级软错误易感性评估

• 作者: 孙岩 张民选 王永文
• 来源期刊: 计算机工程与科学
• 学科: 工学
• 关键词: 可靠性 软错误 结构易感因子 微处理器
• 年，卷（期）: 2010,（11）
• 页码范围: 114-118
• 分类号: TP302
• 字数: 5250字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-130X.2010.11.031

摘要

随着集成电路特征尺寸的缩小和集成度的增加,微处理器的软错误问题越来越严重.为了提高微处理器的可靠性,设计者需要在体系结构设计时精确估算各个部件的软错误率,从而对各部件进行相应的容错设计.本文针对微处理器中的软错误问题,研究了体系结构级软错误易感性估算模型,基于该模型对超标量微处理器主要部件的软错误易感性进行定量分析,并讨论了可靠性与性能的折衷设计.实验结果对微处理器软错误的预防和保护具有一定指导意义,也为微处理器主要部件的容错设计提供了参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张民选	国防科学技术大学计算机学院	63	351	9.0	16.0
2	孙岩	国防科学技术大学计算机学院	8	25	2.0	4.0
3	王永文	国防科学技术大学计算机学院	13	45	3.0	5.0