用泄漏电流概率密度分布预警污秽绝缘子串闪络

• 作者: 张鑫 石岩 肖代波 蒋兴良
• 来源期刊: 高电压技术
• 学科: 工学
• 关键词: 泄漏电流 污秽 绝缘子 闪络 水平穿越行为 包络线
• 年，卷（期）: 2010,（7）
• 页码范围: 1675-1680
• 分类号: TM835.4
• 字数: 4398字
• 语种: 中文

摘要

有效预警绝缘子污闪是确保电网安全的重要措施之一,但目前对预警判据缺乏系统研究,为此以XP-160和LXY4-160为试品进行了试验并根据试验结果依次采用希尔伯特变换法、直方图非参数估计法和泄漏电流水平穿越行为(LCA)法分析了污秽绝缘子泄漏电流特征;提出了泄漏电流包络线的分布特征能表征泄漏电流总体发展规律;建立了污秽绝缘子闪络判断准则.研究表明:XP-160绝缘子泄漏电流幅值＞135 mA的统计时间＞93 ms(即τ135=93 ms)、而LXY4-160绝缘子泄漏电流幅值＞110 mA的统计时间＞105 ms(即τ110=105 ms)时可发生污闪.试验结果验证了污秽绝缘子闪络判断准则的正确性,因此,可以利用该方法进行绝缘子污闪预警.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	石岩		1	14	1.0	1.0
2	蒋兴良		1	14	1.0	1.0
3	肖代波		1	14	1.0	1.0
4	张鑫		1	14	1.0	1.0