集成电路测试系统通用测试软件的研究与设计

• 作者: 张侃谕 戴春翟 李晓静
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路 测试序列 测试参数
• 年，卷（期）: 2010,（1）
• 所属期刊栏目: 在线测试与故障诊断
• 页码范围: 133-135
• 页数: 3页
• 分类号: TP2
• 字数: 1968字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-7300.2010.01.038

摘要

介绍了一种集成电路测试系统通用测试软件的设计方法和软件组成.利用多层次、模块化的软件结构设计方法,令描述被测器件的参数和测试程序互相分离,并以图形化的方式利用测试模块构建测试序列文件,使得该集成电路测试软件具备良好的通用性,可维护性和可扩充性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张侃谕	上海大学机电工程与自动化学院	68	720	15.0	23.0
2	李晓静	上海大学机电工程与自动化学院	10	69	5.0	8.0
3	戴春翟	上海大学机电工程与自动化学院	2	21	2.0	2.0