低气压下绝缘子串直流污闪放电模型及验证

• 作者: 孙才新 张志劲 胡建林 苑吉河 蒋兴良
• 来源期刊: 高电压技术
• 学科: 工学
• 关键词: 低气压 污秽 直流 绝缘子串 闪络过程 局部电弧 电路模型
• 年，卷（期）: 2010,（9）
• 页码范围: 2126-2131
• 分类号: TM852
• 字数: 5406字
• 语种: 中文

摘要

为揭示低气压下染污绝缘子串闪络机理,并为低气压地区外绝缘选择和设计提供参考,在人工气候室模拟低气压条件,以7片串XP-160绝缘子为例,进行了不同低气压、污秽下绝缘子直流放电特性试验研究,并拍摄了其放电过程.试验结果表明:低气压下直流污闪放电过程中局部电弧存在飘弧现象,因此提出低气压下染污绝缘子串直流放电过程的电路模型是由剩余污层电阻、沿面电弧和空气间隙电弧串联组成;根据模型计算所得的临界污闪电压与实测值的误差在10%以内;揭示了静电力和热浮力随气压变化规律的差异是低气压下局部电弧发展中飘弧现象更严重的主要原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙才新	重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室	379	13536	63.0	93.0
2	蒋兴良	重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室	218	5355	38.0	64.0
3	张志劲	重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室	104	2551	29.0	47.0
4	胡建林	重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室	105	1743	26.0	37.0
5	苑吉河	重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室	22	766	12.0	22.0