由于IIC总线锁死引起保护装置异常的问题分析

• 作者: 何凯 侯喆
• 来源期刊: 电力系统保护与控制
• 学科: 工学
• 关键词: IIC总线 保护装置 总线锁死 SCK脉冲 IIC总线锁定保护
• 年，卷（期）: 2010,（7）
• 所属期刊栏目: 设计开发
• 页码范围: 106-108
• 页数: 3页
• 分类号: TM77
• 字数: 2930字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-3415.2010.07.024

摘要

当保护装置采用IIC总线的器件时,可能出现由于IIC总线锁死而导致装置异常的问题.以采用IIC总线的RTC芯片和IIC总线的EEPROM芯片作为定值芯片的实际装置为例,从IIC的规范和装置的软硬件配合方面进行详细分析,发现由于RTC芯片的IIC总线锁死而引起装置定值芯片无法正常访问,最终导致装置无法正常运行.针对这个问题提出了两种解决方法:一是主器件补发SCK脉冲,以完成从器件的读操作周期,从而释放总线;二是采用具有IIC总线锁定保护功能的IIC器件.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	侯喆		1	4	1.0	1.0
2	何凯		1	4	1.0	1.0