符号化仿真技术用于提高模拟集成电路设计良率

• 作者: 谭焜元
• 来源期刊: 信息技术
• 学科: 工学
• 关键词: 符号化仿真器 模拟电路 工艺偏移低敏感性 生产良率
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 所属期刊栏目: 研究与探讨
• 页码范围: 56-60,64
• 分类号: TP391.72
• 字数: 4660字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-2552.2010.05.017

摘要

模拟电路对于工艺偏移的敏感性以及设计良率是模拟电路设计师关心的重要问题.由于数值仿真工具的局限性,至今设计界仍缺乏能有效提高电路可靠性与良率的通用设计辅助工具.提出利用符号化仿真器GRASS(Graph Reduction Analog Symbolic Simulator)快速导出频域设计指标关于电路参数的解析表示,并由此用三维立体图示的方式展示设计指标关于电路参数的依赖敏感度,设计者能够直观的判断如何选择合适的参数组合,以降低工艺偏移可能导致的电路性能恶化,从而提高设计良率.实验表明本文提出的方法可以有效地辅助设计者对于电路参数进行准确判断与选择,是一种值得在实际模拟电路设计中使用的辅助方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谭焜元	上海交通大学微电子学院	1	0	0.0	0.0