数字集成电路参数测试能力验证计划的设计与实现

• 作者: 周红 章婷 肖莹 陈春玲
• 来源期刊: 计算机与数字工程
• 学科: 工学
• 关键词: 数字集成电路 参数测试 TTL电路
• 年，卷（期）: 2010,（9）
• 页码范围: 80-83
• 分类号: TM93
• 字数: 2914字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-9722.2010.09.024

摘要

为了解国防科技工业实验室集成电路测试能力的整体水平,国防科技工业实验室认可委员会组织实施了数字集成电路参数测试能力验证工作.航天、航空、船舶、电子等行业和部队的20个实验室参加了此次能力验证活动,推荐的方法为:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理、Texas Data bookSN54LS32J数据手册.结果显示:实验室满意结果率为79%.此次能力验证活动为国防工业检测校准实验室提供了数字集成电路参数测量一致性的比较平台并为实验室认可评审提供依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖莹		3	0	0.0	0.0
2	章婷		3	1	1.0	1.0
3	周红		1	0	0.0	0.0
4	陈春玲		1	0	0.0	0.0