智能卡中随机序列的检验方法

• 作者: 刘鸿杰 袁岐
• 来源期刊: 华东电力
• 学科: 工学
• 关键词: 智能卡 随机序列 统计检验
• 年，卷（期）: 2010,（8）
• 页码范围: 1282-1284
• 分类号: TP39
• 字数: 1953字
• 语种: 中文

摘要

在对随机数安全性分析的基础上,在智能卡系统中引入随机序列的随机性统计检验的方法,检验生成序列是否满足系统安全所需的随机性.在智能卡上实现了这些检验方法并给出了测试结果.实际应用证明系统运行正确.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	袁岐		1	0	0.0	0.0
2	刘鸿杰		1	0	0.0	0.0