宽光谱Czerny-Turner光谱仪中的彗差与分辨率

• 作者: 杨怀栋 谭峭峰 金国藩 陈科新 陈谭轩
• 来源期刊: 光谱学与光谱分析
• 学科: 工学
• 关键词: 宽光谱 切尼-特纳光谱仪 彗差 分辨率
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 页码范围: 1692-1696
• 分类号: TH744.1
• 字数: 2784字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2010)06-1692-05

摘要

小型光谱仪较多地采用Czemy-Turne,(切尼-特纳)光路结构,其设计应遵循shafer消彗差原理消除中心波长处的初级等差并尽量平直整个谱而以提高分辨率.但常规设计并未考虑非中心波长处彗差和分辨率的变化情况.在对两种典型切尼-特纳光路结构进行初级彗差分析的基础上,指出交叉型光路结构宽光谱范嗣内的分辨率呈"V"形,而M型光路结构分辨率在全光谱范围内变化较小,近似呈"一"形,即后者宽光谱范围内的分辨率一致性远好于前者.针对于此,该文设计了光谱范围为400～600 nm的2种光路,并对其进行了理论计算和对比实验,实验结果表明,两者边缘波长处分辨率分别比中心波长处分辨率低3.7倍和1.2倍,与理论计算结果基本一致.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谭峭峰	清华大学精密测试技术与仪器国家重点实验室	45	409	11.0	18.0
2	金国藩	清华大学精密测试技术与仪器国家重点实验室	134	1085	20.0	25.0
3	杨怀栋	清华大学精密测试技术与仪器国家重点实验室	16	132	7.0	11.0
4	陈科新	清华大学精密测试技术与仪器国家重点实验室	7	101	5.0	7.0
5	陈谭轩	清华大学精密测试技术与仪器国家重点实验室	1	32	1.0	1.0