SmFeAsO材料的正电子寿命研究

• 作者: 叶邦角 孔伟 成斌 杜淮江 许红霞 郝颖萍 陈祥磊
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 化学
• 关键词: 高温超导 正电子寿命
• 年，卷（期）: 2010,（4）
• 所属期刊栏目: 凝聚物质:电子结构、电学、磁学和光学性质
• 页码范围: 2789-2794
• 分类号: O6
• 语种: 中文

摘要

首次用正电子湮灭寿命谱仪(PALS)测量SmFeAsO多晶样品常温下的寿命谱,得到两个寿命成分151.6 ps和290.3 ps,根据捕获模型得到正电子在SmFeAsO中湮灭的体寿命为187.0 ps,与理论计算(广义梯度近似)得到的SmFeAsO单晶中的正电子体寿命173 ps符合较好.基于中性原子叠加模型一有限差分方法(SNA-FD)的理论计算得到正电子与单晶SmFeAsO中各个原子价电子的总湮灭率是其与各个原子核心内层电子总湮灭率的10.6倍,正电子与Fe,As,Sm,O原子的电子湮灭的概率之比是1:1.3:1.2:1.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	叶邦角	中国科学技术大学近代物理系	40	166	7.0	12.0
2	杜淮江	中国科学技术大学近代物理系	8	33	2.0	5.0
3	孔伟	中国科学技术大学近代物理系	21	19	3.0	3.0
4	许红霞	中国科学技术大学近代物理系	3	6	2.0	2.0
5	郝颖萍	中国科学技术大学近代物理系	4	6	2.0	2.0
6	陈祥磊	中国科学技术大学近代物理系	8	12	2.0	3.0
7	成斌	中国科学技术大学近代物理系	4	5	1.0	2.0