基于ARM的便携式晶体管参数测量平台研制

• 作者: 姚益武 董利民 袁秋晨
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 晶体管参数测量平台 S3C2410 Windows CE.NET ARM 处理器
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 所属期刊栏目: 嵌入式设计
• 页码范围: 40-42
• 页数: 3页
• 分类号: TN307
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2010.06.012

摘要

介绍一种晶体管参数测量平台的方案.给出硬件组成和软件流程.使用ARM处理器及WinCE系统作为软硬件基础.以S3C2410为核心控制电路,利用12位D/A模块TLV5618产生稳定的控制电压、10位A/D模块TLC1543完成电压测量.将晶体管参数测量平台与单片机及传统示波器测量平台做了比较,其测量精度高于示波器,并且在对数据的分析处理能力及速度上ARM优于单片机,结果表明该系统性能可靠、速度快、精度高且便携.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	董利民	北京工业大学电子信息与控制工程学院	15	150	7.0	12.0
2	姚益武	北京工业大学电子信息与控制工程学院	4	23	2.0	4.0
3	袁秋晨	北京工业大学电子信息与控制工程学院	2	7	2.0	2.0