Ag@SiO2纳米颗粒的制备和光谱性能研究

• 作者: 刘继宪 唐建国 王瑶 王蕊 黄林军 黄震
• 来源期刊: 材料导报
• 学科: 工学
• 关键词: Ag@SiO2 SiO2壳层 紫外光谱 荧光光谱
• 年，卷（期）: 2010,（12）
• 所属期刊栏目: 材料研究
• 页码范围: 9-12,16
• 分类号: TQ13
• 字数: 3186字
• 语种: 中文

摘要

利用还原法制备纳米银溶胶,采用改进的St(o)ber法分别于乙醇和正丁醇溶剂中制备Ag@SiO2.透射电镜(TEM)表明在乙醇溶刺中实现了包覆,X射线衍射(XRD)表明纳米银具有规则的面心立方结构,X射线光电子能谱(XPS)则进一步表明银颗粒表面构筑了SiO2壳层.壳层厚度对银溶胶的光谱性质有显著影响,紫外可见吸收光谱表明最大吸收峰发生红移;荧光光谱表明SiO2壳层的包覆使纳米银的激发和发射光谱强度降低.