椭偏与光度法联用精确测定吸收薄膜的光学常数与厚度

• 作者: 代伟 吴国松 周毅 李洪波 汪爱英
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 光学常数 光谱型椭偏仪 吸收薄膜 透射率
• 年，卷（期）: 2010,（4）
• 所属期刊栏目: 总论
• 页码范围: 2356-2363
• 分类号: O4
• 语种: 中文

摘要

介绍了一种同时利用椭偏仪和分光光度计精确测量薄膜光学常数的方法,并详细比较了该方法与使用单一椭偏仪拟合结果的可靠性.采用可变入射角光谱型椭偏仪(VASE)表征了250-1700 nm波段辉光放电法沉积的类金刚石薄膜,研究发现当仅用椭偏参数拟合时,由于厚度与折射率、消光系数的强烈相关性,无法得到吸收薄膜光学常数的准确解.如果加入分光光度计测得的透射率同时拟合,得到的结果具有很好的惟一性.该方法无需设定色散模型即可快速拟合出理想的结果,特别适合于确定透明衬底上较薄吸收膜的光学常数.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周毅	中国科学院宁波材料技术与工程研究所	166	1687	23.0	36.0
2	李洪波	中国科学院宁波材料技术与工程研究所	36	405	11.0	19.0
3	吴国松	中国科学院宁波材料技术与工程研究所	2	37	2.0	2.0
4	代伟	中国科学院宁波材料技术与工程研究所	6	53	4.0	6.0
5	汪爱英	中国科学院宁波材料技术与工程研究所	33	206	9.0	13.0