基于FPGA的容错计算机故障注入研究

• 作者: 孙睿 张涛 萧德云 郭林
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: FPGA 容错 故障注入 EDAC 单粒子翻转
• 年，卷（期）: 2010,（14）
• 页码范围: 116-118
• 分类号: TP206
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2095-6835.2010.14.048

摘要

为了验证以FPGA为主控制器的容错计算机的可靠性,利用构造双NIOS Ⅱ系统的方法,设计了模拟量、数字量、通讯量以及单粒子效应的故障注入系统.该系统可以通过软件由用户选择故障参数,对容错计算机进行故障输入.它无需改变原容错计算机的硬件设计,对原操作系统也无特殊的要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	萧德云	清华大学自动化系	107	2922	26.0	52.0
2	张涛	清华大学自动化系	147	1528	22.0	34.0
3	孙睿	清华大学自动化系	2	9	2.0	2.0
4	郭林	清华大学自动化系	2	9	2.0	2.0