基于FPGA的电路板自动测试技术研究

• 作者: 张波 王新洲 陈岩申
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: FPGA 自动测试 边界扫描 Ⅵ曲线测试 LASAR VITAL
• 年，卷（期）: 2010,（7）
• 页码范围: 1500-1502
• 分类号: TN707
• 语种: 中文

摘要

军用电子装备中含FPGA器件的电路板的测试诊断一般采用边界扫描技术、Ⅵ曲线测试技术以及边界扫描和外部输入矢量相结合的方法;边界扫描技术无法进行外围器件的测试;Ⅵ曲线测试技术由于不能测试器件的逻辑功能及内部节点,故障覆盖率相对不高;边界扫描和外部输入矢量相结合的方法无法判断FPGA器件工作是否正常,因而不能完成整板功能的测试;综合应用ATE技术、VITAL标准和LASAR仿真技术,提出一种含FPGA器件电路板的自动测试思路,解决含FPGA器件电路板的自动测试问题.