基于基本门单元完全测试集的测试生成算法研究

• 作者: 姚曜 孔巧 张帆
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 测试向量 故障 结构信息
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 所属期刊栏目: 电子设计
• 页码范围: 143-144,156
• 分类号: TP206
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2095-6835.2010.02.060

摘要

充分地利用电路的结构信息,提出一种应用基本门单元完全测试集的测试生成算法,并给出了一些应用实例,表明了算法的可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张帆		1	0	0.0	0.0
2	姚曜		2	16	1.0	2.0
3	孔巧		1	0	0.0	0.0