高炉风口回旋区断面温度可见光谱CCD辐射测量

• 作者: 张兴兰 欧阳奇 温良英
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 辐射测温 风口回旋区 电子耦合器件 快门控制
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 1244-1246
• 分类号: TH873.7
• 语种: 中文

摘要

针对高炉风口回旋区CCD工况检测中图像过饱和失真问题,提出了CCD光积分时间控制模型,解决高炉回旋区辐射测温过程中CCD在由于辐射强度过大易出现输出过饱和电流导致"图像发白"问题,并进行了高炉回旋区断面温度与CCD快门时间关联实验,并给出了一定快门时间下温度与图像灰度计算模型;理论和实验研究表明,CCD快门时间过长,使图像的清晰程度下降甚至不可辨;通过控制CCD快门时间,可提高CCD辐射测温动态范围;工业应用表明,这种方法能实现高炉风口回旋区断面温度的在线非接触测量和回旋区工况监控.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	温良英	重庆大学材料科学与工程学院	82	769	14.0	22.0
2	欧阳奇	重庆大学材料科学与工程学院	55	495	13.0	20.0