Bi系铜氧化物射频介电性质的研究

• 作者: 倪江利 冯双久 张显良
• 来源期刊: 材料导报
• 学科: 工学
• 关键词: 电工材料 介电性质 Bi系铜氧化物 空间电荷极化 损耗角正切
• 年，卷（期）: 2010,（18）
• 页码范围: 15-16,27
• 分类号: TM201.44
• 字数: 2601字
• 语种: 中文

摘要

测量了不同离子掺杂Bi2Sr2CaCu2Oy多晶样品的射频介电常数,发现样品的介电常数存在明显差别,分析认为这是由于离子掺杂改变了材料中的载流子浓度,导致材料的空间电荷极化差异所引起的.基于这种机制,成功解释了不掺杂样品在1700MHz附近的弛豫现象和不同样品损耗性质的差异.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冯双久	安徽大学物理与材料科学学院信息材料与器件重点实验室	19	44	4.0	6.0
2	倪江利	安徽大学物理与材料科学学院信息材料与器件重点实验室	2	2	1.0	1.0
3	张显良	安徽大学物理与材料科学学院信息材料与器件重点实验室	2	2	1.0	1.0