基于FPGA的NAND Flash坏块处理方法

• 作者: 吴志勇 张胜勇 田丽霞 高世杰
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: 闪存 现场可编程门阵列 坏块
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 所属期刊栏目: 工程应用技术与实现
• 页码范围: 239-240,243
• 页数: 3页
• 分类号: TP333
• 字数: 2418字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2010.06.081

摘要

针对NAND Flash在存储数据时对可靠性的要求,分析传统坏块管理方式的弊端,提出一种基于现场可编程门阵列(FPGA)的坏块处理方案,采用在FPGA内部建立屏蔽坏块函数的方法屏蔽坏块.该方法彻底屏蔽对坏块的操作,可以实现对Flash的可靠存储.实际工程应用证明其具有较高的可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴志勇	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	64	540	13.0	19.0
2	高世杰	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	37	245	8.0	14.0
3	张胜勇	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	2	57	1.0	2.0