三维插值的反向均匀化关键技术研究

• 作者: 李向伟
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 反向均匀化 三维插值 外推技术 色域匹配
• 年，卷（期）: 2010,（12）
• 所属期刊栏目: 计算机应用技术
• 页码范围: 125-128
• 分类号: TP391
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2010.12.040

摘要

针对由样本集直接建立的三维查找表数据不均匀,不能满足ICC Profile规范要求的问题,提出了反向均匀化的解决方法.重点讨论了反向均匀化过程中快速定位四面体、色域边界点外推技术以及色域边界外点的色域匹配等几个关键技术.根据LAB空间采样数据特点给出了一种快速定位四面体的算法,利用图像边界处理的外推思想得出了色域边界点插值模型,提高了插值的校正速度;讨论了色域匹配的裁剪匹配算法并提出了利用二维查找表来提高算法效率的思想,缩短了判断时间,降低了算法复杂度.最后通过实验验证了反向均匀化算法,给出了实验效果图.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李向伟		7	15	2.0	3.0