适用于高级数字网络测试的边界扫描芯片特性研究

• 作者: 徐鹏程 杜影 王石记
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 高级数字网络测试 边界扫描 IEEE1149.6 可测试性设计
• 年，卷（期）: 2010,（10）
• 页码范围: 2234-2235,2284
• 分类号: TP273
• 语种: 中文

摘要

为解决高级数字网络交流耦合/差分的故障检测问题,对高级数字网络测试边界扫描标准(IEEE1149.6)进行了研究;针对符合IEEE1149.6标准的典型元件,基于测试结构和测试指令两个方面,简要阐述了高级数字网络的边界扫描测试原理;并对典型元件进行了特性参数分析与测试结构仿真;仿真结果表明:1149.6结构芯片可以实现对交流耦合差分通道中测试信号的边沿检测;最后通过实际的电路测试实验,给出了电路测试设计方法,为熟知边界扫描技术的设计者提供了有价值的参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杜影		12	19	2.0	3.0
2	王石记		10	60	4.0	7.0
3	徐鹏程		5	7	2.0	2.0