基于边界扫描的混合电路系统机内测试研究

• 作者: 周浔 宋克岭 徐磊 王晋阳 陈圣俭
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 混合电路 边界扫描 BIT 故障检测
• 年，卷（期）: 2010,（10）
• 页码范围: 2213-2214,2218
• 分类号: TN707
• 语种: 中文

摘要

当今电子系统多由模数混合电路组成,随着电子技术的飞速发展,混合电路系统的集成度不断增加,其检测问题一直是测试领域的一个难点;针对混合电路系统的测试特点,以IEEE1149.4标准为研究基础,对某系统控制盒电路进行基于边界扫描的BIT(Builit-in Test机内测试)测试性设计和改造,并将改进后的被测系统进行测试性验证;实验结果表明,该电路系统通过74BCT8373与STA400边界扫描芯片的置换和置人,能够实现混合电路的互连测试与参数测试,且测量迅速,故障定位准确,可以有效提高电路系统的测试性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈圣俭	装甲兵工程学院控制工程系	49	228	9.0	12.0
2	徐磊	装甲兵工程学院控制工程系	12	76	5.0	8.0
3	周浔	装甲兵工程学院控制工程系	11	29	3.0	5.0
4	王晋阳	装甲兵工程学院控制工程系	3	13	2.0	3.0