一起220 kV GIS闪络故障分析及建议

• 作者: 李涛 杜晓平 陈瑞林
• 来源期刊: 电力系统保护与控制
• 学科: 工学
• 关键词: 组合电器 六氟化硫 组分分析 闪络击穿
• 年，卷（期）: 2010,（3）
• 所属期刊栏目: 工程应用
• 页码范围: 128-129,132
• 页数: 3页
• 分类号: TM56
• 字数: 2209字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-3415.2010.03.029

摘要

针对临沂供电公司的一起GIS组合电器事故,运用常规与非常规化学、电气试验手段,对GIS SF6CT气室中闪络故障前后气体成份及CT气室内的材料进行排查试验,分析了事故原因,指出事故是由内置式CT气室内的丁腈橡胶板中的腐蚀性硫与气室内触头等镀银件反应形成硫化银,最终形成导电通道,引起CT气室闪络击穿.对此类典型故障进行了详细的分析总结,具有典型的指导意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李涛		18	104	6.0	10.0
2	杜晓平		12	98	6.0	9.0