基于IEEE1149标准的电子装备可测试性设计技术研究

• 作者: 曲伟
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 可测试性 IEEE1149标准 系统级测试
• 年，卷（期）: 2010,（12）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 2710-2712
• 分类号: TP206
• 语种: 中文

摘要

针对新型电子装备功能与结构复杂、测试诊断难度大的问题,基于IEEE1149标准,提出了电子装备可测试性设计方法,系统地分析了模块级产品可测试性设计的内容,提出了器件与测试接口设计要求,阐述了测试扫描链路设计方法,并进一步研究了测试信号完整性设计技术,并结合电子装备计算机体系结构,设计了系统级测试性设计框架;通过实际验证,该项技术对于边界扫描器件互连测试覆盖率达100%,可以提高装备测试性设计水平,满足了电子装备测试诊断的需求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曲伟	中国船舶重工集团公司江苏自动化研究所	15	54	4.0	7.0