单片机金属检测器系统研究

• 作者: 殷建国
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 金属检测 单片机 数据采集 A/D转换 抗干扰
• 年，卷（期）: 2010,（4）
• 所属期刊栏目: 元器件与应用
• 页码范围: 183-186
• 页数: 4页
• 分类号: TP368.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2010.04.058

摘要

传统的金属检测器系统中是采用模拟电路和数字电路相结合的方法采进行A/D转换,在采集数据的同时干扰信号也进入了后续处理电路,有抗干扰能力差的缺点.采用单片机控制的A/D数据采集系统能有效地排除干扰信号带来的影响,减少了金属检测器误报警的次数,提高金属检测器的灵敏度.该电路已在金属探测设备中得到了很好的应用,目前金属检测仪已经是机场、食品、医药、木材、烟草、塑料、服装、化工等行业中一种不可或缺的重要设备.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	殷建国		4	7	1.0	2.0