质子辐照电荷耦合器件诱导电荷转移效率退化的实验分析

• 作者: 刘敏波 唐本奇 张勇 王祖军 肖志刚 黄绍艳
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 电荷耦合器件 质子 辐照效应 电荷转移效率
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 页码范围: 4136-4142
• 分类号: O4
• 语种: 中文

摘要

开展了电荷耦合器件(CCD)质子辐照损伤的实验研究.分析了质子辐照CCD后电荷转移效率的退化规律,阐述了质子辐照诱导电荷转移效率退化的损伤机理,比较了不同能量质子对电荷转移效率的损伤程度.通过开展辐射粒子输运理论计算,分析了不同能量质子对电荷转移效率损伤差异的原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐本奇		32	248	9.0	13.0
2	刘敏波		22	147	8.0	10.0
3	肖志刚		29	227	8.0	13.0
4	张勇		23	200	8.0	12.0
5	黄绍艳		27	220	8.0	13.0