小子样条件下电子装备维修性验证模型研究

• 作者: 刘福成 尚朝轩 李刚
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 维修性验证 Bayes原理 平均修复时间 指标
• 年，卷（期）: 2010,（21）
• 页码范围: 38-40
• 分类号: TN919-34
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2010.21.012

摘要

介绍了经典维修性验证方法,并指出其存在的不足,主要是对于现代电子设备而言传统的验证方法需要的试验样本量太大,试验经费昂贵,难以满足实际工程需要.根据Bayes原理,结合验前信息,推导建立了小子样条件下修复时间为对数正态分布时的验证模型以及试验时所需的样本量,通过理论推导,证明了该方法比经典的验证方法所需的样本量有所减少,可以节省试验经费,具有一定的实用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李刚		111	584	12.0	16.0
2	尚朝轩		105	493	10.0	16.0
3	刘福成		4	16	3.0	4.0