基于芯片多线程处理器的性能测试及分析

• 作者: 唐夷简 廖湘科 邵立松
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: 芯片多线程 负载测试 争用 亲和性
• 年，卷（期）: 2010,（18）
• 页码范围: 253-255
• 分类号: TP391
• 字数: 3903字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2010.18.088

摘要

芯片多线程处理器给现代商业负载带来了高吞吐率和并行化高性能,同时也给操作系统和软件的设计以及性能优化带来难题.为此,设计一种完全可定制的集成负载多线程测试方法,在多种负载配置下对芯片多线程处理器进行性能测试,分析不同调度方式对性能的影响,为操作系统多线程调度提出优化思想.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	廖湘科	国防科学技术大学计算机学院	33	580	13.0	23.0
2	邵立松	国防科学技术大学计算机学院	13	69	3.0	8.0
3	唐夷简	国防科学技术大学计算机学院	1	3	1.0	1.0