金属薄膜晶体学结构对其电爆炸性能的影响

• 作者: 侯丽霞 张方 王可暄 褚恩义 钱勇
• 来源期刊: 火工品
• 关键词: 铜箔 电爆炸性能 晶体学结构 冲击片
• 年，卷（期）: 2011,（2）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 41-43
• 分类号: TJ450.4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-1480.2011.02.011

摘要

采用SEM、XRD等手段对4种不同工艺制得的铜箔进行了表征,从微观晶体学结构的角度考察爆炸箔起爆器中桥膜的显微结构与其电爆炸性能的关系,讨论了薄膜电阻、晶界电阻、晶界数量、晶粒尺寸、晶粒取向等因素对金属薄膜电爆炸性能的影响,进而从微观层面上理解桥箔在冲击片雷管中的作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	钱勇	中国兵器工业第213研究所火工品安全性可靠性技术国防科技重点实验室	8	78	5.0	8.0
2	褚恩义	中国兵器工业第213研究所火工品安全性可靠性技术国防科技重点实验室	22	147	7.0	11.0
3	张方	中国兵器工业第213研究所火工品安全性可靠性技术国防科技重点实验室	3	11	3.0	3.0
4	王可暄	中国兵器工业第213研究所火工品安全性可靠性技术国防科技重点实验室	6	14	3.0	3.0
5	侯丽霞	中国兵器工业第213研究所火工品安全性可靠性技术国防科技重点实验室	3	10	2.0	3.0