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文献信息
篇名 测试系统开发ARM芯片应用案例
来源期刊 无线电技术(上海) 学科 工学
关键词 ARM MDK 变频器 DDS I2C FT245
年,卷(期) 2011,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 41-49
页数 9页 分类号 TP332
字数 语种 中文
DOI
五维指标
传播情况
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引文网络
引文网络
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2011(0)
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研究主题发展历程
节点文献
ARM
MDK
变频器
DDS
I2C
FT245
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
无线电技术(上海)
年刊
上海800-205信箱
出版文献量(篇)
196
总下载数(次)
9
总被引数(次)
0
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