多故障的测试序列问题研究

• 作者: 叶晓慧 潘红兵 王红霞
• 来源期刊: 兵工学报
• 学科: 工学
• 关键词: 人工智能 多故障诊断 测试序列问题 隐藏故障 掩盖故障 碰集
• 年，卷（期）: 2011,（12）
• 页码范围: 1518-1523
• 分类号: TP306
• 字数: 5650字
• 语种: 中文

摘要

针对武器装备发生多故障的实际情况,提出了一种新的多故障的测试序列优化方法.用实例阐明了单故障诊断策略隔离多故障可能会出现错误的结论；通过掩盖故障、碰集与最小集合覆盖的定义建立了故障源间的映射关系,使得可用求解集合覆盖的方法获得所有元件的掩盖故障；通过对单故障诊断策略扩展的方法获得多故障的测试算法,该算法扩展的对象是存在隐藏故障和掩盖故障的叶节点；通过实例计算,并与其他算法进行了对比,验证了算法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王红霞	海军工程大学电子工程学院	92	354	12.0	15.0
2	潘红兵	海军工程大学电子工程学院	24	65	4.0	7.0
3	叶晓慧	海军工程大学电子工程学院	70	448	12.0	16.0