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摘要:
热表面电离质谱计(TIMS)MAT261在采用二次电子倍增器(SEM)接收时,SEM积分模拟模式的测量存在质量歧视效应和强度歧视效应.本研究测量了其质量歧视校正因子,建立了强度歧视效应基本可以忽略的测量方法.为实现弱信号的准确测量,建立SEM离子计数测量模式.基于SEM离子计数测量技术,应用钚标样比较SEM积分模拟模式测量和离子计数模式测量的结果.在控制离子流强度的条件下,两种方法的测量结果与标样标称值在不确定度范围内符合.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 MAT261质谱计二次电子倍增器歧视效应研究和计数法建立
来源期刊 质谱学报 学科 化学
关键词 计数法 二次电子倍增器 质量歧视效应 强度歧视效应
年,卷(期) 2011,(2) 所属期刊栏目 技术交流
研究方向 页码范围 95-99
页数 分类号 O657.63
字数 4221字 语种 中文
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研究主题发展历程
节点文献
计数法
二次电子倍增器
质量歧视效应
强度歧视效应
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
质谱学报
双月刊
1004-2997
11-2979/TH
大16开
北京275信箱65分箱中国原子能科学研究院
82-349
1980
chi
出版文献量(篇)
1837
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1
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12922
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