长度基线溯源问题探讨

• 作者: 付子傲 包欢 孙方飞 朱江 薛英 贾真
• 来源期刊: 测绘科学技术学报
• 学科: 地球科学
• 关键词: 长度基线 校准 因瓦尺 光电测距仪 维塞拉干涉仪
• 年，卷（期）: 2011,（3）
• 页码范围: 157-160
• 分类号: P241
• 字数: 3142字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-6338.2011.03.001

摘要

介绍了长度基线的3种校准方式,分析了因瓦尺和光电测距仪校准基线的不确定度,在1000 m距离上,二者都能达到1 mm的扩展不确定度(k=2).用3台精密测距仪在芬兰、北京、郑州、成都等地基线场的6期实验数据,说明维塞拉基线、因瓦尺基线、光电测距基线三者之间存在3 mm/km的系统性差异,提出了解决差异的建议.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	薛英	信息工程大学测绘学院	5	15	2.0	3.0
2	付子傲	信息工程大学测绘学院	13	88	6.0	9.0
3	包欢	信息工程大学测绘学院	20	191	7.0	13.0
4	朱江	信息工程大学测绘学院	9	38	5.0	5.0
5	贾真	信息工程大学测绘学院	5	16	2.0	3.0
6	孙方飞		5	19	3.0	4.0