用于低温电气性能测试平台的温度控制系统

• 作者: 屠幼萍 张皓 张贵峰 牛田野
• 来源期刊: 低温与超导
• 学科: 工学
• 关键词: 低温 绝缘材料 电气性能 温度控制
• 年，卷（期）: 2011,（8）
• 所属期刊栏目: 低温技术
• 页码范围: 10-14
• 分类号: TM21|TP273
• 字数: 2264字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-7100.2011.08.003

摘要

随着空间技术的不断发展和超导技术的实用化,不同低温环境下绝缘材料的电气特性越来越受关注.针对低温环境中绝缘材料电气性能测试系统,文章基于Labview平台,采用闭环控制原理设计了一套温度控制系统.该系统能较精确稳定地实现对试验区域温度的控制,可以用于不同低温温度下绝缘材料的电气性能测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	屠幼萍	华北电力大学高电压与电磁兼容北京市重点实验室	45	604	15.0	24.0
2	张皓	华北电力大学高电压与电磁兼容北京市重点实验室	3	10	2.0	3.0
3	张贵峰	华北电力大学高电压与电磁兼容北京市重点实验室	3	10	2.0	3.0
4	牛田野	华北电力大学高电压与电磁兼容北京市重点实验室	3	10	2.0	3.0