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摘要:
在不同氨分压比(0~30%)下,用射频磁控溅射法在玻璃和硅衬底上制备了N掺杂β-Ga2O3薄膜.研究了氨分压比和退火对薄膜光学和结构特性的影响.N掺杂β-Ga2O3薄膜的微结构、光学透过率、光学吸收和光学带隙随着氨分压比的增加发生了显著变化.观察到了绿光、蓝光和紫外发光带,并对每个发光带进行了讨论.
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文献信息
篇名 射频磁控溅射法制备N掺杂β-Ga2O3薄膜的光学特性
来源期刊 光子学报 学科 物理学
关键词 射频磁控溅射 透明导电氧化物 光学带隙 退火 N掺杂β-Ga2O3
年,卷(期) 2011,(6) 所属期刊栏目 薄膜光学
研究方向 页码范围 852-856
页数 分类号 O484.1
字数 1420字 语种 中文
DOI 10.3788/gzxb20114006.0852
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 闫金良 鲁东大学物理学院 25 100 5.0 8.0
2 李清山 鲁东大学物理学院 40 97 5.0 7.0
3 张易军 鲁东大学物理学院 4 14 3.0 3.0
4 曲崇 鲁东大学物理学院 7 15 2.0 3.0
5 张丽英 鲁东大学物理学院 1 7 1.0 1.0
6 李厅 鲁东大学物理学院 1 7 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
射频磁控溅射
透明导电氧化物
光学带隙
退火
N掺杂β-Ga2O3
研究起点
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光子学报
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大16开
西安市长安区新型工业园信息大道17号47分箱
52-105
1972
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