便携式能量色散X射线荧光仪测定矿渣中铟

• 作者: 何大志 张永涛 赖万昌 郭龙滨
• 来源期刊: 冶金分析
• 学科: 化学
• 关键词: 能量色散 X射线荧光分析 基体效应 快速分析 铟 矿渣
• 年，卷（期）: 2011,（1）
• 页码范围: 19-22
• 分类号: O657.34
• 字数: 2901字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7571.2011.01.004

摘要

采用电致冷Si-PIN型半导体探测器和<'241>Am源作为激发源,以便携式能量色散X射线荧光快速分析仪为手段进行矿渣样品中铟的测定.讨论了样品中主要基体元素Fe、Cu、Pb、Zn等的影响,建立特散比法和一元回归相结合的数学模型对基体效应进行校正.仪器对自制样品重复测量20次,从测量结果分析来看,标准偏差为24.5μg/g,相对标准偏差为6.4%,仪器处于正常工作状态.通过部分自制样品的测量结果与化学分析的结果对比分析,相对误差的最小值为0.35%,仪器测量结果为0.158%;相对误差最大值为26.06%,仪器测量结果为0.023%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赖万昌		150	873	15.0	20.0
2	何大志		3	17	3.0	3.0
3	郭龙滨		3	15	2.0	3.0
4	张永涛		2	11	2.0	2.0