幅度取样光纤光栅拼接制作技术的分析与研究

• 作者: 张丽萍 路慧敏 陈根祥
• 来源期刊: 半导体光电
• 学科: 工学
• 关键词: 取样光栅 高反射率 拼接 拼接误差 拼接次数
• 年，卷（期）: 2011,（1）
• 所属期刊栏目: 材料、结构及工艺
• 页码范围: 64-68
• 分类号: TN253
• 语种: 中文

摘要

提出了一种可用于制作高反射率纯幅度取样光纤光栅的拼接技术方案,并对拼接误差和拼接次数对取样光栅光谱特性的影响进行了详细的理论分析和研究.理论分析结果表明,采用拼接技术可以获得良好的多波长取样光纤光栅反射谱,拼接误差对取样光栅反射谱的影响主要取决于拼接次数.在拼接三次时,可接受的拼接误差仅为±0.1 μm;但在只拼接一次的情况下,拼接误差达±5 μm时仍可获得良好的多波长反射谱.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈根祥	北京交通大学光波技术研究所	20	171	9.0	12.0
2	张丽萍	北京交通大学光波技术研究所	3	12	1.0	3.0
3	路慧敏	北京交通大学光波技术研究所	3	19	2.0	3.0