结构试验中二维位移检测技术探讨

• 作者: 胡敬礼 陈以一
• 来源期刊: 结构工程师
• 学科: 工学
• 关键词: 二维位移测试 位移传感器 结构试验
• 年，卷（期）: 2011,（z1）
• 页码范围: 105-108
• 分类号: TU3
• 字数: 2145字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-0159.2011.z1.019

摘要

结构试验中试件的位移主体大多发生在一个平面之内,而且位移量往往以一个方向的位移为主,与之垂直方向的位移为辅.传统位移检测方法中,需要用两只一维位移传感器组合的方式进行测试,但该方法在使用过程中有诸多弊端,如易发生测杆弯曲卡壳或基座松动,或对测点的位移敏感度低而达不到测试精度.本文提出一种结构试验中二维位移的测试方法,并制作了二维位移传感器样品.文中对二维位移测试相关技术要点进行了阐述,并重点介绍的一款大量程二维位移传感器产品.通过试验使用,测试了传感器的性能;试验结果认为该位移传感器可以满足结构试验领域对二维位移的检测需求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈以一	同济大学建筑工程系	268	4423	34.0	55.0
2	胡敬礼		2	3	1.0	1.0