航天器典型悬浮导体结构深层放电现象的模拟试验研究

• 作者: 全荣辉 张振龙 韩建伟
• 来源期刊: 航天器环境工程
• 学科: 工学
• 关键词: 航天器 深层充放电 悬浮导体 模拟试验
• 年，卷（期）: 2011,（1）
• 所属期刊栏目: 空间环境模拟及效应评价
• 页码范围: 21-24
• 页数: 4页
• 分类号: TM203|TM503+.5|V416.5
• 字数: 2453字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1379.2011.01.004

摘要

空间辐射环境中,由高能电子所引起的深层充放电现象是威胁航天器安全的重要因素之一.文章采用<'90>Sr放射源模拟GEO电子环境,试验观测了电子辐照下几种含有悬浮导体的典型卫星模拟部件结构的深层充放电现象,比较了真空度、束流密度与温度对放电现象的影响.试验结果表明,深层放电现象的产生与部件结构密切相关,在一定环境条件下含有悬浮导体的结构即可产生放电现象.因此,航天器深层放电防护除了选择合适的介质材料外,要尽可能地避免悬浮导体的存在,同时还必须考虑真空度和温度的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩建伟	中国科学院空间科学与应用研究中心	90	549	14.0	18.0
2	张振龙	中国科学院空间科学与应用研究中心	35	275	10.0	15.0
3	全荣辉	中国科学院空间科学与应用研究中心	10	120	7.0	10.0