Rietveld全谱拟合方法定量测定GCr15粉末冶金试样中的残余奥氏体含量

• 作者: 杨延清 艾艳玲
• 来源期刊: 理化检验-物理分册
• 学科: 工学
• 关键词: GCr15 粉末冶金 残余奥氏体 Rietveld全谱拟合方法
• 年，卷（期）: 2011,（2）
• 所属期刊栏目: 试验技术与方法
• 页码范围: 90-93
• 页数: 4页
• 分类号: TG115.23
• 语种: 中文

摘要

分别采用YB/T 5338-2006规定的方法和Rietveld全谱拟合方法对常规GCr15钢中的残余奥氏体含量进行了定量分析,发现两种方法所得结果十分相近,Rietveld全谱拟舍方法具有准确、方便和快捷等优点,可作为用X射线衍射仪进行残余奥氏体定量测定的有益补充.进而对于X射线衍射峰强度比值不符合YB/T 5338-2006要求的某GCr15粉末冶金失效零件试样,采用Rietveld全谱拟合方法进行了残余奥氏体含量的定量测定,得到其残余奥氏体含量高达19.09%(质量分数),远远超过了正常值,这可能是导致该零件失效的原因之一.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨延清		160	1803	25.0	34.0
2	艾艳玲		13	110	6.0	10.0