麦草茎秆皮层硅元素分布和化学状态的研究

• 作者: 云娜 邱玉桂
• 来源期刊: 中国造纸学报
• 学科: 工学
• 关键词: 麦秆皮层 硅元素 SEM-EDX 红外光谱法
• 年，卷（期）: 2011,（3）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 1-4
• 分类号: TS71+1
• 字数: 3244字
• 语种: 中文

摘要

分别采用扫描电镜-X射线能谱仪(SEM-EDX)和红外光谱分析法(IR)对麦草茎秆皮层表面形态和皮层中硅元素的分布及其结合方式进行了研究.结果表明,麦秆皮层外表面有两种形态,且硅元素在两种不同外表面中存在的化学状态不同.多数外表面呈高低相间的平行条纹,气孔器分布较少或没有；这种外表面的皮层中硅的密度分布也呈高低相间的平行条纹,硅的结合方式主要是Si—O—C和Si—H.另一种外表面具有颗粒状物且气孔器分布较多；颗粒状物是硅高度密集的部位,气孔器周围(即气孔器壁)的硅密度也甚高,硅的结合方式除了Si—O—C,还有Si—O—Si和Si—C,气孔器周围主要以Si-H的方式结合.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邱玉桂	华南理工大学制浆造纸工程国家重点实验室	51	454	13.0	17.0
2	云娜		31	51	4.0	6.0