一种具有三重核查功能的制造业记录仪

• 作者: 丁程 吴明光 周平 徐晓忻 肖华
• 来源期刊: 仪表技术
• 学科: 工学
• 关键词: 记录仪 FRAM+FLASH架构 MD5 三重核查
• 年，卷（期）: 2011,（4）
• 页码范围: 27-29,32
• 分类号: TP216
• 字数: 2316字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-2394.2011.04.008

摘要

现有RAM+FLASH架构的无纸记录仪存在数据完备性和可核查性的缺陷,文章提出了一种基于FRAM+FLASH架构、采用MD5算法的有纸记录仪.通过FRAM+FLASH架构提升了数据的完备性,通过MD5算法设置用户"32位链接变量"和仪器生产商"32住链接变量",实现了电子数据的三重核查功能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴明光		83	933	17.0	26.0
2	周平		19	168	7.0	12.0
3	肖华		3	17	1.0	3.0
4	徐晓忻		1	0	0.0	0.0
5	丁程		1	0	0.0	0.0