加热温度对淬火态Cu-Al合金电阻率的影响

• 作者: 陆金权 马强 高淑阁
• 来源期刊: 热处理
• 学科: 工学
• 关键词: Cu-Al合金 淬火 电阻率 温度
• 年，卷（期）: 2011,（1）
• 页码范围: 53-55
• 分类号: TG166.2
• 字数: 1854字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-1690.2011.01.012

摘要

采用电阻率测试仪研究了加热温度对淬火态Cu-Al合金电阻率的影响.结果表明,在25~380 ℃范围内,Cu-Al合金的电阻率随着温度的升高而增大;当温度从380 ℃升至473 ℃时,合金的电阻率变化不大,而随着温度的进一步升高电阻率再次增大.对上述合金电阻率随加热温度的变化进行了初步分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马强	燕山大学机械工程学院	10	11	1.0	3.0
2	高淑阁		1	1	1.0	1.0
3	陆金权		2	1	1.0	1.0