高能固体推进剂层间界面结构的XPS研究

• 作者: 徐涛 李敬明 杨秀兰 郝晓飞 钟发春
• 来源期刊: 化学推进剂与高分子材料
• 学科: 航空航天
• 关键词: 高能固体推进剂 界面结构 X射线光电子能谱(XPS) 线扫描
• 年，卷（期）: 2011,（1）
• 所属期刊栏目: 研究与开发
• 页码范围: 55-57
• 分类号: V512
• 字数: 2464字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-2191.2011.01.009

摘要

采用X射线光电子能谱(XPS)中先进的线扫描技术分析表征了某含聚氨酯(PU)涂层的高能固体推进剂在不同层间界面上的元素组成分布和含量变化.结果表明,随线扫描点从推进剂向PU涂层推进,元素Si含量呈上下波动趋势,Cl和Pb含量逐渐下降,且存在一定程度的组分迁移.元素过渡点C18、N18峰的分峰拟合得出推进剂和聚氨酯涂层的2种不同组分中S18、N18特征峰各自不同的结合能,从而可定性区分推进剂组成随扫描点的变化情况.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	钟发春	中国工程物理研究院化工材料研究所	57	605	12.0	22.0
2	李敬明	中国工程物理研究院化工材料研究所	52	445	12.0	18.0
3	杨秀兰	中国工程物理研究院化工材料研究所	5	15	3.0	3.0
4	徐涛	中国工程物理研究院化工材料研究所	56	190	8.0	10.0
5	郝晓飞	中国工程物理研究院化工材料研究所	11	73	5.0	8.0