SZC16-1型温度剖面仪测量电路可靠性预计研究

• 作者: 张鹏 方芳
• 来源期刊: 海洋技术学报
• 关键词: XBT 测量电路 可靠性预计
• 年，卷（期）: 2011,（2）
• 所属期刊栏目: 研究与应用
• 页码范围: 88-90,122
• 分类号: P716+.12
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-2029.2011.02.020

摘要

文中主要以SZC16-1型XBT测量电路为例,从固有可靠性预计的理论基础出发,通过对基本元器件、单元电路及整个可靠度的计算,给出了目前该型号XBT测量电路的可靠性参数,同时阐述了硬件电路可靠性研究的方法和步骤.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张鹏		13	52	5.0	6.0
2	方芳		7	21	3.0	4.0