测量行波管电子注的法拉第筒的热分析

• 作者: 刘濮鲲 赵世柯 郝保良 韦宇祥 黄明光
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 行波管电子注 法拉第筒探头 温度 功率密度 脉冲宽度 重复频率
• 年，卷（期）: 2011,（9）
• 所属期刊栏目: 高功率微波
• 页码范围: 2461-2464
• 分类号: TN124
• 字数: 2175字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/HPLPB20112309.2461

摘要

利用ANSYS软件对测量行波管电子注截面的法拉第筒探头进行了热分析研究.分析了在单脉冲情况下,测量各种直径的不同脉冲功率密度的电子注、不同脉冲宽度对法拉第筒温度的影响,研究了测量不同功率密度的电子注可以使用的脉冲宽度.结果表明,仅法拉第筒上的注斑区域温度迅速上升,温度梯度较大,其它部分温度基本不变,为保证法拉第筒能够持续正常工作,在单脉冲情况下,对于功率密度大于5×106W/cm2的电子注,需使用宽度小于0.5 μs的脉冲,最好是0.1μs和0.2μs的脉冲进行测量,与文献结果相符.测量一定功率密度的电子注,需选择合适的脉冲宽度.另外,考虑热量的累积效应,分析了脉冲重复频率对法拉第筒工作温度和散热情况的影响.结果表明,脉冲重复频率设为10～100 Hz是比较合适的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘濮鲲	中国科学院电子学研究所高功率微波源与技术重点实验室	116	943	13.0	22.0
2	黄明光	中国科学院电子学研究所高功率微波源与技术重点实验室	19	52	5.0	6.0
3	郝保良	中国科学院电子学研究所高功率微波源与技术重点实验室	18	87	6.0	8.0
7	赵世柯	中国科学院电子学研究所高功率微波源与技术重点实验室	17	246	6.0	15.0
8	韦宇祥	中国科学院电子学研究所高功率微波源与技术重点实验室	3	13	2.0	3.0