USB系统多副载波调制对测距性能的影响

• 作者: 石启亮 陈东 陈方涛
• 来源期刊: 遥测遥控
• 学科: 工学
• 关键词: 综合基带 侧音测距 距离漂移 BPSK调制
• 年，卷（期）: 2011,（2）
• 所属期刊栏目: 论文与技术报告
• 页码范围: 59-63
• 分类号: TN911.3|V556
• 字数: 4459字
• 语种: 中文

摘要

侧音测距是统-S频段(USB)系统中经常采用的测距方式.针对某型综合基带测试中出现的测距距离漂移过大的问题,首先对侧膏测距的原理、多副载波调制信号的特性进行分析,然后通过实验洲试论证,讨论在不同的调制度、调制数据、副载波频率和码速率组合情况下,多个副载波交叉调制产生的组合频率对测距主音的干扰,从而确定了问题产生的原因,最后根据理论分析和实验测试结果提出一些预防措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈东		1	6	1.0	1.0