纳米锆/铝氧化物杂化聚酰亚胺薄膜的介电性能

• 作者: 范勇 袁征 陈昊 韩笑笑
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 耐电晕 聚酰亚胺 电气强度 纳米杂化
• 年，卷（期）: 2011,（6）
• 所属期刊栏目: 性能研究
• 页码范围: 25-27,31
• 分类号: TM215.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9239.2011.06.007

摘要

采用热液法制备了一系列不同Zr和Al比例的纳米粒子分散液,用原位聚合法分别制备了无机纳米杂化聚酰亚胺薄膜,并进行了SEM分析、电气强度和耐电晕测试.结果表明:Zr和A1的掺杂比例对杂化薄膜的耐电晕寿命及击穿场强影响较大,其耐电晕寿命最大可达Kapton100CR薄膜的4倍.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	范勇	哈尔滨理工大学材料科学与工程学院	70	539	13.0	18.0
2	袁征	哈尔滨理工大学材料科学与工程学院	1	5	1.0	1.0
3	陈昊	哈尔滨理工大学材料科学与工程学院	32	202	8.0	12.0
4	韩笑笑	哈尔滨理工大学材料科学与工程学院	3	27	3.0	3.0